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微顆粒測(cè)試儀
一、微顆粒測(cè)試儀介紹
通過(guò)精密控制的運(yùn)輸系統(tǒng),將待測(cè)對(duì)象準(zhǔn)確地傳送到測(cè)試窗口。
樣品通過(guò)測(cè)試窗口時(shí),相機(jī)啟動(dòng),顆粒圖像連續(xù)拍攝下來(lái),并實(shí)時(shí)傳輸?shù)竭B接的電腦上。
分析軟件對(duì)顆粒圖像進(jìn)行處理和分析。
附件及系統(tǒng)配置 | 作用 |
樣品準(zhǔn)備附件 | 對(duì)樣品進(jìn)行必要的處理,確保其符合檢測(cè)要求 |
液流控制系統(tǒng) | 精確地輸送待測(cè)對(duì)象,確保其在測(cè)試過(guò)程中的穩(wěn)定性 |
光源和光學(xué)系統(tǒng) | 收集顆粒的清晰圖像 |
圖像采集系統(tǒng) | 將顆粒圖像穩(wěn)定、連續(xù)地捕捉下來(lái) |
監(jiān)測(cè)與校準(zhǔn)系統(tǒng) | 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備的工作狀態(tài),并確保測(cè)量模塊始終保持準(zhǔn)確校準(zhǔn) |
計(jì)算機(jī)系統(tǒng) | 負(fù)責(zé)對(duì)采集到的顆粒圖像技術(shù)局進(jìn)行處理和分析,形成測(cè)試報(bào)告 |
采用專用低畸變、高分辨率鏡頭,最新一代LED光源,提供更清晰更銳化的圖像
測(cè)量范圍:10um到300um;
測(cè)量精度:0.6um;
測(cè)量效率:每分鐘超過(guò)1萬(wàn)顆;
測(cè)量數(shù)量:一次測(cè)量可以超過(guò)十萬(wàn)顆;
漏檢率:0;
一次測(cè)量,可同時(shí)得到大小,圓度、光澤度、顆粒數(shù)度等信息;
儀器可設(shè)置密碼保護(hù)支持自動(dòng)測(cè)量操作。
自校準(zhǔn)功能:所有測(cè)量數(shù)據(jù)均經(jīng)過(guò)自校準(zhǔn),以保障結(jié)果準(zhǔn)確
測(cè)試結(jié)果精準(zhǔn)且客觀:顆粒在測(cè)試液中實(shí)現(xiàn)了高效分離,有效避免了靜電吸附和粘連現(xiàn)象的發(fā)生。
自監(jiān)測(cè)功能:確保設(shè)備能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定工作;可耐受灰塵和不穩(wěn)定環(huán)境。
適用對(duì)象廣范:陶瓷砂,有機(jī)物、無(wú)機(jī)物固體顆粒等;
二、微顆粒測(cè)試儀分析示圖
推薦產(chǎn)品
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